Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей Издательства: Флинта, Наука, 2007 г Твердый переплет, 224 стр ISBN 978-5-9765-0207-9, 978-5-02-034811-0 Тираж: 1000 экз Формат: 60x88/16 (~150x210 мм) инфо 8564y.

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качествбьэюэа изготовленных из них деталей Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионноговквмн электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля Для студентов и преподавателей технических вузов 2-е издание Авторы Анатолий Батаев Владимир Батаев Анатолий Алхимов.

Категории:Категории книг: