В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качествбьэюэа изготовленных из них деталей Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионноговквмн электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля Для студентов и преподавателей технических вузов 2-е издание Авторы Анатолий Батаев Владимир Батаев Анатолий Алхимов.